{"id":12497,"date":"2026-05-27T09:25:07","date_gmt":"2026-05-27T07:25:07","guid":{"rendered":"https:\/\/talentimpulse.cea.fr\/offre-emploi\/nouvelles-methodologies-daposanalyse-de-laposimpact-des-defauts-cristallins-sur-les-performances-electriques-des-dispositifs-de-puissance-sic\/"},"modified":"2026-06-13T09:00:07","modified_gmt":"2026-06-13T07:00:07","slug":"nouvelles-methodologies-daposanalyse-de-laposimpact-des-defauts-cristallins-sur-les-performances-electriques-des-dispositifs-de-puissance-sic","status":"publish","type":"offre-emploi","link":"https:\/\/talentimpulse.cea.fr\/en\/offre-emploi\/nouvelles-methodologies-daposanalyse-de-laposimpact-des-defauts-cristallins-sur-les-performances-electriques-des-dispositifs-de-puissance-sic\/","title":{"rendered":"New methodologies for analyzing the impact of crystal defects on the electrical performance of SiC power devices"},"content":{"rendered":"<p>Dans nos \u00e9tudes sur les dispositifs de puissance SiC, lapos;analyse des performances \u00e9lectriques sur les diodes doit prendre en compte lapos;impact des d\u00e9fauts dans le mat\u00e9riau au niveau de lapos;\u00e9pitaxie et du substrat. Dans un premier temps, le travail de th\u00e8se consistera \u00e0 mettre en place des outils d\u00e9di\u00e9s \u00e0 nos besoins dans l\u2019\u00e9quipe SiC. Le cahier des charges de ces outils a d\u2019ailleurs d\u00e9j\u00e0 \u00e9t\u00e9 \u00e9tabli dans le cadre du stage actuellement en cours au sein du laboratoire LAPS. Ces outils d\u2019IA vont pouvoir \u00eatre entrain\u00e9s sur des jeux de donn\u00e9es d\u00e9j\u00e0 existants (lots diode SiC : avec data \u00e9lectriques, mappings de d\u00e9fauts) et compl\u00e9ter les analyses pr\u00e9c\u00e9demment r\u00e9alis\u00e9es en \u00ab manuel \u00bb. Dans un second temps l\u2019utilisation des outils d\u00e9velopp\u00e9s sera appliqu\u00e9e aux nouveaux lots fabriqu\u00e9s et caract\u00e9ris\u00e9s. L\u2019\u00e9ventail de donn\u00e9es sera alors compl\u00e9t\u00e9 en consid\u00e9rant des nouvelles architectures de composants (diodes ET MOSFET de puissance), des nouvelles caract\u00e9risations des mat\u00e9riaux (carac. d\u00e9fauts issus d\u2019autres outils en cours d\u2019installation au Leti, voire avec des collaborateurs ext\u00e9rieurs : cf Ligne Pilot WBG, cf Soitec), des nouvelles entr\u00e9es (images de d\u00e9fectivit\u00e9, obtenues durant la fabrication des composants). Notons que la d\u00e9marche sapos;applique i) dans le cas de la puissance aux autres mat\u00e9riaux (GaN, diamant, Ga2O3&#8230;), ii) aussi potentiellement \u00e0 toute fili\u00e8re de composants sur semiconducteur (m\u00e9moire, transistor, photonique, quantique&#8230;).<\/p>","protected":false},"featured_media":0,"template":"","categories":[167],"tags":[],"class_list":["post-12497","offre-emploi","type-offre-emploi","status-publish","hentry","category-materiaux-et-procedes-emergents-pour-les-nanotechnologies-et-la-microelectronique"],"acf":[],"aioseo_notices":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/talentimpulse.cea.fr\/en\/wp-json\/wp\/v2\/offre-emploi\/12497","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/talentimpulse.cea.fr\/en\/wp-json\/wp\/v2\/offre-emploi"}],"about":[{"href":"https:\/\/talentimpulse.cea.fr\/en\/wp-json\/wp\/v2\/types\/offre-emploi"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/talentimpulse.cea.fr\/en\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=12497"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/talentimpulse.cea.fr\/en\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=12497"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/talentimpulse.cea.fr\/en\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=12497"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}