Chef de projet équipement de métrologie des propriétés électriques

Description de l'offre : Le LETI étend ses capacités de métrologie des propriétés électriques des couches minces inorganiques, et plus particulièrement afin de répondre aux défis des nœuds technologiques les plus avancés (CMOS 10 nm et au-delà). De fait, il devient critique de caractériser des paramètres tels que la mobilité des porteurs, la concentration en dopants actifs ainsi que leur distribution en profondeur, et ce dans des couches de quelques dizaines de nm d’épaisseur. Ces informations permettent d’optimiser des procédés tels que l’épitaxie sélective, l’implantation ou encore le recuit laser qui peut induire une redistribution des dopants dans les matériaux d’intérêt. Le LETI désire recruter un(e) ingénieur(e) en CDD afin de mener les évaluations d’équipements de métrologie des propriétés électriques, en étroite collaboration avec l’équipe métrologie et les experts procédés. Les objectifs spécifiques du poste sont : - Synthèse des besoins en métrologie électriques via l’interaction avec les experts procédés - Définition des plaquettes et échantillons qui permettront de mener les évaluations des équipements. Interactions avec les équipementiers (Europe, Etats-Unis, etc) pour optimiser la définition des échantillons en fonction des contraintes expérimentales - Mise en place, suivi rigoureux puis synthèse des évaluations qui devront à minima être menées sur les techniques suivantes : spectroscopie infrarouge en micro-faisceau (MBIR), mesure de résistivité par micro-pointes, analyse par effet Hall ainsi que par effet Hall différentiel (profil de concentration de porteurs actifs). Vous serez intégré(e) aux équipes Laboratoire Propriétés des Matériaux et Structures du SMCP, en horaire collectif (jour).

Présentation de l’institut : Au sein du Département des Plateformes Technologiques, le Service de Métrologie et Caractérisation Physique (SMCP) a pour objectif de définir, développer et mettre en œuvre les équipements ou techniques de contrôle, métrologie et nano-caractérisation nécessaires aux programmes de recherche en micro et nanotechnologies (microélectronique, microsystèmes, photonique, …). Dans ce contexte, le Service doit maintenir ses effectifs pour faire face aux besoins croissants, en terme de métrologie et défectivité aux échelles micro et nanométrique, des technologies développées dans les salles blanches du CEA LETI

Profil du candidat : Titulaire d'un diplôme d’ingénieur ou Master en physique, matériaux ou microélectronique , vous disposez d'une première expérience en micro-électronique de préférence en métrologie salle-blanche sur les techniques considérées. Vous aimez le travail d'équipe et faites preuve d’autonomie, de rigueur et d’organisation. Vous maîtrisez l'anglais professionnel.

Langues : Anglais Courant