Ingénieur métrologie, microscopie électronique H/F

Candidater

Les besoins, dans le domaine de la métrologie dimensionnelle (CDSEM et overlay) en salle blanche, nécessitent le recrutement d'un(e) ingénieur(e) pour une période de 3 ans. Vous serez intégré(e) à l'équipe de mesures dimensionnelles du Service et travaillerez en horaire collectif journée. Une formation sera réalisée par les experts de l'équipe ou les équipementiers sur les microscopes électroniques à balayage dédiés à la mesure automatique des dimensions critiques (CD-SEM) de motifs nanométriques réalisés par photolithographie ou gravure sur les plaques de silicium de 200 ou 300 mm et aussi sur les équipements de mesures d’overlay (mesure du désalignement entre deux niveaux patternés). Après cette première période de formation, vous serez directement impliqué dans: ·       La création et l'optimisation de programmes de mesures automatiques, l'interprétation des résultats obtenus en lien avec les équipes procédés (lithographie et gravure) et filières technologiques qui conçoivent les composants ·       L’avancement les projets du Léti ·       Le suivi des performances des CD-SEM en lien avec les responsables équipements et l'équipe maintenance du Département ·       La formation de nouveaux utilisateurs ·       La gestion des plannings d'utilisation des équipements Vous interviendrez également dans le cadre de développements spécifiques associés aux nouvelles fonctionnalités des équipements ou à l’établissement de protocoles de mesures originaux. Vous veillerez ainsi à la protection de vos travaux par des brevets et assurerez une veille technologique. Vous évoluerez au sein d’une équipe dynamique et bienveillante, composée actuellement de 5 ingénieurs et d’un doctorant, au sein du CEA Leti, centre de recherche technologique ayant pour raison d’être l’innovation et le transfert technologique vers l’industrie. Le site est idéalement situé au centre de Grenoble, offrant toutes les facilités d’accès, une vie sociale et culturelle riche ainsi qu’un accès direct aux activités de montagne. Conformément aux engagements pris par le CEA en faveur de l'intégration des personnes en situation de handicap, cet emploi est ouvert à toutes et à tous. Le CEA propose des aménagements et/ou des possibilités d'organisation, rejoignez-nous!

Au sein du Département des Plateformes Technologiques, le Service de Métrologie et Caractérisation Physique (SMCP) a pour objectif de définir, développer et mettre en œuvre les équipements ou techniques de contrôle, métrologie, défectivité, et nano-caractérisation nécessaires aux programmes de recherche en micro et nanotechnologies (microélectronique, microsystèmes, photonique, électronique de puissance, CMOS…). Dans ce contexte, le Service fait face à des besoins croissants, en terme de métrologie et défectivité aux échelles micro et nanométrique, des technologies développées dans les salles blanches du CEA LETI.

titulaire d’un diplôme d’ingénieur ou d’un master 2 de type matériaux, microélectronique ou généraliste, vous avez des connaissances en métrologie et procédés de microélectronique, en particulier des notions de la photolithographie et de la gravure. Vous avez une expérience de 3 à 5 ans dans le domaine des procédés pour la microélectronique. Vous devez faire preuve d’esprit d’équipe, sens de l'organisation, de curiosité et de sens du relationnel. On reconnait votre capacité à structurer les différentes parties de son activité, à construire une méthode de travail, à planifier les tâches et gérer les priorités et votre capacité à identifier, comprendre et relier les éléments d’une situation. Vous savez rendre compte et avez un bon sens de la communication.

Anglais Courant

Médias associés

fr_FRFR

Contact us

We will reply as soon as possible...