Ingénieur(e) métrologie, microscopie à force atomique H/F

Candidater

Les besoins, dans le domaine de la caractérisation par microscopie à force atomique (AFM) des lots en salle blanche, nécessitent le recrutement d'un(e) ingénieur(e). Le ou la candidat(e) sera intégré(e) à l'équipe de microscopie AFM in line du Laboratoire d’Analyses de Surface et Interface du SMCP et travaillera en horaires collectifs journée. Il (elle) devra après une période de formation aux équipements et logiciels de suivi de l’activité : ·     Réaliser les caractérisations par microscopie AFM sur les plaques de 200 ou 300 mm des lots de la salle blanche et rendre compte des résultats aux ingénieurs procédés ou filières ; ·     Garantir le fonctionnement en termes de procédés d’un AFM automatique dont il aura la charge et assurer la formation et l’accompagnement des utilisateurs ; ·     Définir les développements méthodologiques et leur capitalisation en proposant les évolutions nécessaires et en assurant la valorisation de son activité. Outre l’activité principale décrite ci-dessus, le ou la candidat(e) participera à l’organisation de l’activité de l’équipe, en lien avec le chef de laboratoire, dans l’objectif d’optimiser les temps de cycle des analyses. En particulier, il interviendra en direct avec les ingénieurs procédés ou filières afin de valider leurs demandes. En lien avec l’équipe maintenance et les équipementiers, le candidat prendra également part au pré-diagnostique de pannes des microscopes.

Description de l'unité Au sein du Département des Plateformes Technologiques, le Service de Métrologie et Caractérisation Physique (SMCP) a pour objectif de définir, développer et mettre en œuvre les équipements ou techniques de contrôle, métrologie, défectivité, et nano-caractérisation nécessaires aux programmes de recherche en micro et nanotechnologies (microélectronique, microsystèmes, photonique, …). Dans ce contexte, le Service doit maintenir ses effectifs pour faire face aux besoins croissants, en terme de métrologie et défectivité aux échelles micro et nanométrique, des technologies développées dans les salles blanches du CEA LETI.

Formation : Vous devrez à minima être titulaire d'un diplôme de niveau Bac + 5 (master, ingénieur) en physique, matériaux ou microélectronique avec une première expérience en microscopie AFM. Vous parlez et écrivez l'anglais couramment (niveau B2 minimum CECRL). Vous êtes également à l’aise avec l’outil informatique Office. Le traitement de données par Python serait un plus. Expérience professionnelle souhaitée : première expérience en micro-électronique et caractérisation par microscopie AFM de 3 à 5 ans. Qualités adaptées : Le candidat devra savoir travailler en équipe, avoir l’esprit de synthèse et faire preuve d’autonomie, de rigueur et d’organisation. « Conformément aux engagements pris par le CEA en faveur de l'intégration des personnes handicapées, cet emploi est ouvert à toutes et à tous. Le CEA propose des aménagements et/ou des possibilités d'organisation pour l’inclusion des travailleurs handicapés. »

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