Technicien métrologie de couches minces H/F

Candidater

 Les missions principales du poste seront les suivantes : Support à l’activité opérationnelle de métrologies SE-SR, XRD, XRR et XRF de la salle blanche : lancement de lots sur équipements, adaptation/création de programmes de métrologie, vérification de la validité des mesures, aide à l’analyse. En ellipsométrie spectroscopique, une participation à la modélisation de premier niveau des propriétés optiques de matériaux sera demandée après une formation. Dans ce cadre, des interactions fortes avec les experts caractérisation seront nécessaires afin de valider les programmes de métrologie, et de quantifier au plus près du besoin les incertitudes associées aux mesures fournies aux clients. Participation aux études et développements engineering de la thématique, rédaction de comptes rendus et présentations techniques. Assurer la traçabilité dans le logiciel MES (logiciel de pilotage de la production) des caractérisations effectuées Assurer la formation sur les équipements pour l’équipe de nuit Participation au maintien et au bon fonctionnement des équipements de métrologie SE-SR, XRD, XRR, XRF : suivi des performances des équipements (plan de contrôle), pré-diagnostique des pannes en lien avec les responsables équipements et l'équipe maintenance du service, Participer au tri des programmes dans le cadre de la rationalisation des recettes des ellipsomètres et assurer les protocoles de transfert de recettes entre équipements. Rédaction de documents techniques et instructions qualité, Passage de consignes Le/la candidat(e) démarrera par une période de formation aux équipements et logiciels en journée, en étroite collaboration avec les équipes jour du laboratoire LPMS. Le/la candidat(e) intègrera ensuite l’équipe nuit avec des retours occasionnels en journée pour la montée en compétences et la participation à des réunions de travail thématiques avec les experts métrologie et caractérisation. Le/la candidat(e) reportera au chef d’équipe nuit, et sera affilié au service des Dépôts (SDEP) du Leti. #Nanotechnology  #NanoCaracterisation

Au sein du Département des Plateformes Technologiques, l'objectif de l'unité est de définir, développer et mettre en œuvre les équipements ou techniques de contrôle, métrologie et nano-caractérisation nécessaires aux programmes de recherche en micro et nanotechnologies (microélectronique, microsystèmes, photonique, …). Dans ce contexte, le département propose un poste de technicien(ne) dans le domaine de la métrologie des couches minces, sur les techniques de mesures par ellipsométrie (SE), réflectométrie (SR) et par rayons X (diffraction XRD, réflectivité XRR et fluorescence XRF). Vous travaillerez sur les plateformes salles blanches du Leti et serez intégré(e) à l'équipe semaine nuit (21h-5h15).

Titulaire d'un diplôme de niveau Bac+2 (DUT, BTS) en physique, matériaux ou microélectronique, vous disposez d'une première expérience en micro-électronique de préférence en métrologie salle-blanche sur les techniques considérées. Vous avez déjà travailler en horaires décalés. Vous aimez le travail d'équipe et faites preuve d’autonomie, de rigueur et d’organisation.

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