Au sein du laboratoire d’analyses de surface et d'interface, vous intégrerez une équipe projet dédiée à la caractérisation physico-chimique de matériaux et de composants provenant des filières technologiques du LETI, via des techniques avancées telles que la spectroscopie de photoélectrons (XPS) ou la spectrométrie de masse d’ions secondaires (ToF-SIMS). Vos missions principales seront les suivantes : - Effectuer des analyses par XPS et/ou ToF-SIMS sur des matériaux utilisés en microélectronique. Vous jouerez un rôle d'interface clé avec les technologues du LETI pour identifier le(s) besoin(s) en caractérisation de surface et définir la/les méthode(s) d'analyse la/les plus adaptée(s). - Exploiter les données, en synthétisant et en communiquant les résultats aux technologues. - Assurer le bon fonctionnement des spectromètres et des équipements périphériques, en garantissant la conformité avec le système de gestion de la qualité en place. - Participer à des études de R&D plus spécifiques en lien avec les ingénieurs de l’équipe. Vous rejoindrez une équipe dynamique et bienveillante, composée actuellement de 5 ingénieurs, au sein du CEA Leti, un centre de recherche technologique dédié à l'innovation et au transfert de technologies vers l'industrie. Votre expertise technique contribuera à des projets de grande envergure, en lien avec le développement industriel local et européen, dans un cadre stratégique de souveraineté. Le site est idéalement situé au cœur de Grenoble, offrant un accès facile, une vie sociale et culturelle riche, ainsi qu'une proximité directe avec les activités de montagne. Engagés depuis plus de 30 ans dans l’inclusion et le maintien dans l’emploi des personnes en situation de handicap, nos postes sont ouverts à toutes et tous.
Le Département des Plateformes Technologiques (DPFT) développe et réalise des composants avancés dans ses différentes salles blanches (CMOS, MEMS, intégration 3D, photonique, caractérisation), grâce à un parc de plus de 700 équipements 200/300mm. Le DPFT regroupe ainsi tous les moyens opérationnels (équipements, procédés, méthodes, infrastructures) nécessaires pour assurer les réalisations technologiques innovantes du Leti. Au sein de ce département, le Service de Métrologie et Caractérisation Physique (SMCP) a pour objectif de définir, développer et mettre en œuvre les équipements et les méthodologies d‘analyse en nano-caractérisation nécessaires aux programmes de recherche en micro et nanotechnologies. Dans ce cadre, il doit maintenir ses effectifs pour faire face aux besoins croissants, en terme de caractérisations morphologiques, dimensionnelles et chimiques aux échelles micro et nanométrique, des technologies développées dans les salles blanches et Départements applicatifs du CEA LETI. Ainsi nous recherchons aujourd'hui à renforcer l'équipe en spectrométrie de masse des ions secondaires pour répondre aux besoins des nouveaux projets (CMOS avancé, quantique, puissance, éclairage et détection, …) sur les équipements à l'état de l'art de la plateforme unique en Europe de nanocaractérisation (PFNC).
Titulaire d'un diplôme de niveau Bac+5 ou 8 (Master, ingénieur) en chimie, matériaux ou microélectronique assorti si possible d’un doctorat en chimie ou physico-chimie des matériaux vous justifiez d'une première expérience professionnelle de 2 à 3 ans en caractérisation de matériaux par XPS ou SIMS. Dynamique, autonome et motivé(e), vous êtes passionné(e) par un travail expérimental riche, aussi bien en R&D qu'en prestations. Vous faites preuve de rigueur, d’un excellent esprit de synthèse et d’un fort sens de l’analyse. Votre sens relationnel et vos compétences en communication sont des atouts indispensables. Vous maîtrisez l'anglais professionnel. Une maîtrise des outils informatiques/programmation type Python serait appréciée.
Anglais Courant
Talent impulse, le site d’emploi scientifique et technique de la Direction de la Recherche Technologique du CEA
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