Diffraction X in situ sous sollicitation mécanique H/F

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Contexte La Plateforme de Nano-Caractérisation (PFNC) du CEA Grenoble dispose d'équipements de pointe pour les caractérisations physico-chimiques appliquées aux micro et nanotechnologies, nanomatériaux, et matériaux pour l’énergie. Parmi ces équipements, des systèmes dédiés permettent des mesures structurales par diffraction des rayons X in situ sous stimulus simulant les conditions réelles d’utilisation. Un autre service du LETI, spécialiste des capteurs et transducteurs avancés, a récemment réussi à transférer des films piézoélectriques sur des substrats flexibles, ouvrant la voie à des innovations technologiques (e.g., miniaturisation de hautparleurs, NEMS) et à l’étude plus fondamentale des domaines ferroélastiques dans des conditions électromécaniques complexes. Travail demandé Ce stage vise à développer des mesures in situ lors de sollicitations mécaniques à l’aide d’une machine de traction uniaxiale au sein du laboratoire de rayons X de la PFNC. La diffraction des rayons X, grâce à sa grande sensibilité aux déformations, est un outil idéal pour ces études. Des mesures sous flexion 3 points et/ou couplées à des mesures électriques simultanées, seront envisagées dans un second temps. Une compréhension fine des phénomènes électromécaniques dans ces structures piézoélectriques pourra alors être obtenue

Elève ingénieur ou Master 2 en physique des matériaux ou équivalent, 6 mois

Bac+5 - Master 2

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