Développement et application de la technique TERS/TEPL pour la caractérisation avancée des matériaux

  • Nano-caractérisation avancée,
  • Post-doctorat
  • Grenoble
  • BAC+8
  • 2024-01-01
  • LE Van-Hoan (DRT/DPFT//LPMS)
Candidater

Le TERS/TEPL (Tip-Enhanced Raman Spectroscopy and Tip-Enhanced Photoluminescence) est une approche puissante pour la caractérisation des matériaux à lapos;échelle nanométrique. Lapos;acquisition récente dapos;un équipement TERS/TEPL unique à la PFNC (Plateforme de Nano-caractérisation) du CEA LETI ouvre de nouveaux horizons pour la caractérisation des matériaux. Cet équipement combine la spectroscopie Raman, la photoluminescence et microscopie en champ proche. Il offre également des capacités multi-longueurs dapos;onde (de lapos;UV au proche infrarouge), permettant une large gamme dapos;applications et offrant des informations inégalées sur la composition, la structure et même les propriétés mécaniques/électriques des matériaux à une résolution nanométrique. Ce projet post-doctorat vise à développer et accélérer la mise en œuvre de cette nouvelle technique à la FPNC afin dapos;exploiter pleinement son potentiel dans différents projets du CEA (LETI/LITEN/IRIG) et de ses partenaires.

doctorat en physique des matériaux, en spectroscopie ou dans un domaine connexe. Des expériences démontrées dans les techniques TERS et TEPL ainsi que dans la caractérisation avancée des matériaux sont fortement exigées.

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