La sécurité des systèmes embarqués est aujourdapos;hui un enjeu fondamental dans de nombreux domaines : IoT, Automobile, Aéronautique, entre autres. Les attaques physiques sont une menace spécifique supposant un accès physique à la cible. En particulier, les attaques par injection de fautes sur les circuits intégrés (CI) permettent de perturber le système afin de récupérer des donnés confidentielles ou de contourner un mécanisme vérifiant lapos;intégrité du code exécuté sur une machine. En raison de leurs fortes capacités à générer des vulnérabilités, les développeurs doivent protéger leur système contre de telles attaques pour être conformes aux normes de sécurité telles que Common Criteria et FIPS. Dans le contexte de la constante réduction des technologies silicium, et avec la transition vers les technologies FD-SOI, le modèle de vulnérabilité dapos;un CI doit être drastiquement révisé, du niveau transistor jusquapos;à celui des circuits numériques complexes. Dans cette thèse, nous proposons dapos;étudier la validation du modèle dapos;attaquant à ce dernier niveau. Lapos;objectif est de contribuer à la définition dapos;un modèle de vulnérabilité après la synthèse dapos;une description RTL dapos;un circuit (par exemple un microcontrôleur) dans une technologie FD-SOI 22 nm. Ces modèles contribueront à définir le modèle dapos;attaquant injecté en entrée dapos;outils de vérification formelle. Le candidat devra définir une méthodologie pour caractériser par des expériences laser les modèles multicouches et hétérogènes afin de fournir une analyse quantitative de leur limite de validité. La méthodologie sera testée sur des ASIC réalisés par le CEA dans le cadre de projets de Ramp;D permettant dapos;avoir une maîtrise et une connaissance complète de lapos;architecture, des paramètres de conception et de synthèse et des codes exécutés.
Master Micro-electronique, Master Sécurité des Systèmes Embarqués
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